結晶構造を持つ物質にX線を照射することで得られる回折線を解析することで物質の同定や定量を行う装置です。
石英とガラスはともにSiO2(二酸化珪素)が主成分で構成されていますが、X線回折装置によって測定をすると違いが観測されます。
石英は「結晶質」のため回折線が発生し、ピークを観測することができます。一方、ガラスは「結晶質」ではないため回折線が発生せず、ピークを観測できません。このことにより組成分析だけでは判別できない構造の違う異物の混入が発生してもX線回折装置なら分析可能です。
営業時間平日(月~金) 午前8時45分~午後5時30分まで