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TEM(透過型電子顕微鏡)TEM

TEM 透過型電子顕微鏡Transmission Electron Microscope

TEMは、試料全体に電子線を当て透過した電子線の強弱により微小な物質を観察する顕微鏡です。
主に物質の微小構造の観察に用いられます。(最大倍率:数百倍~数百万倍)また、電子線を試料に照射することで得られる斑点状の制限視野回折像から、試料の定性分析および結晶構造解析を行うことができます。

JEM-2011 日本電子製

分析例

アスベストの無害化処理※後の結晶構造解析及び構成元素分析

※1000℃以上で約1日加熱することで脱水反応により結晶構造を崩壊させる

アスベスト(クリソタイル)標準試料

観察像 制限視野回折像 構成元素分析

無害化処理を施したアスベスト(クリソタイル)

観察像 制限視野回折像 構成元素分析

観察像ではクリソタイルの標準試料は細く鋭い繊維ですが、無害化処理を施したクリソタイルでは丸みを帯びた形状に変化しています。
更に制限視野回折像では標準試料で見られる斑点状の並びが無害化処理を施した試料には見られず、これは結晶構造が崩れていることを示します。
構成元素分析では標準試料と無害化処理を施した試料で大きな違いはなく、構成している元素は変化がないことが分かります。
これらの分析結果から、無害化処理を施した試料は、元素組成は変わらないまま結晶構造が変化していることが確認できます。
このようにTEMを用いることで物質の微小構造及び定性分析、結晶構造解析を行うことが可能です。

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